超大型積體電路測試與可測試性設計
VLSI Testing and Testability Design

學校臺灣科技大學
學年1111
代碼EE5037701
學分3
上課時間
週五 - 09:10-10:00
週五 - 10:20-11:10
週五 - 11:20-12:10
上課地點F2(EE-406),F3(EE-406),F4(EE-406)
教師呂學坤
修課人數11
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172.70.178.238