超大型積體電路測試與可測試性設計
VLSI Testing and Testability Design

學校臺灣科技大學
學年1131
代碼EE5037701
學分3
上課時間
週五 - 13:20-14:10
週五 - 14:20-15:10
週五 - 15:30-16:20
上課地點F6(IB-401),F7(IB-401),F8(IB-401)
教師呂學坤
修課人數1
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172.70.178.239